Mikroskop sił magnetycznych

Ten artykuł od 2011-02 wymaga zweryfikowania podanych informacji. Należy podać wiarygodne źródła w formie przypisów bibliograficznych. Część lub nawet wszystkie informacje w artykule mogą być nieprawdziwe. Jako pozbawione źródeł mogą zostać zakwestionowane i usunięte. Sprawdź w źródłach: Encyklopedia PWN • Google Books • Google Scholar • Federacja Bibliotek Cyfrowych • BazHum • BazTech • RCIN • Internet Archive (texts / inlibrary) Po wyeliminowaniu niedoskonałości należy usunąć szablon {{Dopracować}} z tego artykułu.

Mikroskop sił magnetycznych (ang. MFM – Magnetic Force Microscope) – mikroskop, w którym ostrze pokryte cienką warstwą ferromagnetyka wibruje z częstotliwością bliską rezonansowej, poruszając się blisko badanej powierzchni. Poprzez modulację częstości z jaką wibruje dźwignia, mikroskop rejestruje namagnesowanie badanej powierzchni. Zmiany te są indukowane przez zależność pola magnetycznego od odległości ostrze – próbka. Jest on używany do badania struktur domen magnetycznych powierzchni głowic i nośników magnetycznych, np. dysków twardych.